MARC details
| 000 -CABECERA |
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| campo de control de longitud fija |
05949nam a22002777a 4500 |
| 003 - IDENTIFICADOR DE NUMERO DE CONTROL |
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| campo de control |
CO-EnIU |
| 008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA -- INFORMACION GENERAL |
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| campo de control de longitud fija |
200204b ||||| |||| 00| 0 spa d |
| 020 ## - NUMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS (ISBN) |
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| International Standard Book Number |
9788400094362 |
| 040 ## - FUENTE DE CATALOGACION |
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| Agencia de catalogación original |
CO-EnIU |
| Idioma de catalogación |
spa |
| Convenciones de la descripción |
rcaa |
| 041 ## - CODIGO DE IDIOMA |
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| Código de idioma para texto/pista de sonido o título separado |
Español |
| 082 ## - NUMERO DE CLASIFICACION DECIMAL DEWEY |
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| Número de clasificación |
543.085 |
| Número del ítem |
T255 |
| 100 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL |
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| Enlace autoridades |
64739 |
| Nombre personal |
Faraldos, Marisol |
| Término relacionador |
editor |
| 245 10 - MENCION DE TITULO |
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| Título propiamente dicho |
Técnicas de análisis y caracterización de materiales / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
editores Marisol Faraldos, Consuelo Goberna. |
| 250 ## - MENCION DE EDICION |
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| Mención de edición |
segunda edición revisada y aumentada |
| Resto de la mención de edición |
primera reimpresión |
| 260 ## - PUBLICACION, DISTRIBUCION, ETC. (PIE DE IMPRENTA) |
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| Lugar de publicación, distribución, etc. |
Madrid: |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. |
Consejo Superior de Investigaciones Científicas CSIC, |
| Fecha de publicación, distribución, etc. |
2019. |
| 300 ## - DESCRIPCION FISICA |
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| Extensión |
1024 páginas: |
| Otros detalles físicos |
ilustraciones; |
| Dimensiones |
18x24 cm |
| 504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFIA, ETC. |
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| Nota de bibliografía, etc. |
Bibliografía al final de los capítulos |
| 505 ## - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO PREESTABLECIDO |
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| Nota de contenido con formato preestablecido |
Definición de términos -- Métodos clásicos y métodos instrumentales -- Componentes de los instrumentos analíticos -- Clasificación de las técnicas instrumentales -- Características de los instrumentos analíticos -- Calibrado de la técnicas instrumentales -- Manipulación de muestras -- Espectroscopía ultravioleta-visible (UV-VIS) -- Teoría de la espectroscopía UV-VIS -- Leyes de la espectrofotometría -- Refracción y reflexión -- Instrumentación -- Tipos de instrumentos -- Accesorios para UV-VIS -- Preparación de muestras -- Manejo de equipos -- Aplicaciones de la técnica -- Espectroscopía fotoacústica -- Cálculo de triestímulos -- Espectroscopía de luminicencia: fluorescencia y fosforescencia -- Fundamentos de la técnica -- Metodología -- Espectroscopía infrarroja (IR) -- Métodos especiales -- Casas comerciales -- Electroscopía Raman -- Aplicaciones de la espectoscopía Raman -- Análisis químico: espectroscopía de absorción y emisión atómica. Preparación de muestras. Análisis elemental -- Comparación de las distintas técnicas de espectroscopía atómica -- Espectroscopía de masas -- Principios básicos de la espectroscopía de masas -- espectrometría de masas para el análisis de gases -- Espectrometría de masas aplicada a líquidos -- Espectrometría de masas tándem (GC-MS y HPLC-MS) -- Aplicaciones de la espectrometría de masas -- Espectroscopía de resonancia paramagnética electrónica (EPR) -- Principios básicos de la técnica EPR -- Aplicaciones. Características generales de los espectros EPR de Sistemas Mono y Policristalinos. Particularidades de sistemas en la fase líquida -- Algunos ejemplos de aplicaciones en Sistemas Policristalinos -- Espectroscopía de resonancia magnética nuclear (RMN) -- Principios básicos de RMN -- Detección experimental del fenómeno de RMN -- Interacción núcleo-entorno estructural -- Métodos de alta resolución -- Aplicaciones de RMN al estudio de materiales -- Espectroscopías de absorción de Rayos X (XES y EXAFS y XANES) -- XANES -- EXAFS -- Técnicas de emisión de Rayos X -- Sumario y perspectivas futuras -- Espectroscopía de fotoelectrones de Rayos X (XPS) -- Tratamiento de los espectros -- Difracción de Rayos X -- Estructura de la materia condensada -- La naturaleza de los Rayos X, qué son y cómo se generan -- Efecto de los Rayos X en la materia. El fenómeno de la difracción -- El patrón de difracción de muestras policristalinas -- Difracción y sustancias amorfas -- Accesorios -- Aplicaciones -- Microscopía electrónica de materiales -- Nociones de óptica -- Microscopía electrónica de barrido (SEM) -- Microscopía electrónica de transmisión (TEM) -- Microscopía electrónica de transmisión con barrido (STEM) -- Análisis por dispersión de energía de rayos X (EDX); Espectroscopía de pérdida de energía de los electrones (EELS) -- Procesado y simulación -- Preparación de muestras -- Diseño previo del experimento (¿Qué microscopio necesito y por qué? -- Microscopía de fuerza (AFM) y de efecto túnel (STM) -- Fundamentos físicos -- Instrumentación básica y posibles accesorios -- Manejo de equipos y procedimientos de medida -- Área superficial, textura y distribución porosa -- Isotermas de absorción -- Porosimetría de intrusión de mercurio -- Análisis térmico -- Análisis termogravimétrico (ATG) -- Métodos térmicos y calorimetría diferencial de barrido (DSC) -- Análisis y detección de los gases desprendidos en los análisis térmicos (EGA/EGD) -- Métodos electroanalíticos -- Preparación de medidas electroquímicas -- Técnicas electroanalíticas -- Aplicaciones de los métodos electroanalíticos -- Cromatografía de gases (GC) -- Cromatografía líquida de alta resolución (HPLC) -- Componentes de un equipo de HPLC -- Parámetros cromatográficos -- Tipos de cromatografía HPLC -- Escalas de aplicación de cromatografía HPLC -- Cromatografía ultra-rápida (UPLC) -- Caracterización de materiales mediante estudios de actividad catalítica -- Cinética química de las reacciones catalíticas -- Catálisis homogénea -- Catálisis heterogénea -- Reacciones catalíticas enzimáticas -- Reactores catalíticos -- Procesos catalíticos heterogéneos: casos históricos y ejemplos -- Adquisición de datos, supervisión y control de equipos de laboratorio por ordenador -- Etapas y elementos necesarios para la adquisición de datos, supervisión y control -- Señales analógicas y digitales -- El ordenador -- Interfases hardware de comunicaciones: puertos, interfases o tarjetas -- Señal y ruido -- Interfases software de comunicaciones: programas o aplicaciones -- Conclusiones y futuro -- Calidad en le laboratorio -- Motivación por la calidad -- Sistemas de calidad en laboratorios. Modelos aplicables -- Implantación de un sistema de gestión de calidad en un laboratorio -- Calidad de las medidas -- Control de equipos -- Aseguramiento de la calidad |
| 650 #0 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
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| Enlace autoridades |
8364 |
| Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Análisis instrumental |
| 650 #0 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
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| Enlace autoridades |
19808 |
| Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Rayos X |
| 650 #0 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
|---|
| Enlace autoridades |
972 |
| Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Cromatografia |
| 650 #0 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
|---|
| Enlace autoridades |
25148 |
| Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Microscopia |
| 700 ## - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE PERSONAL |
|---|
| Enlace autoridades |
64740 |
| Nombre personal |
Goberna, Consuelo |
| Término de relación |
editor |
| 942 ## - ELEMENTOS AGREGADOS (KOHA) |
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| Fuente de clasificación |
|
| Koha [default] item type |
Libros |
